Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://dspace.msu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/6788
Назва: Optical tomography of non-crystalline films by interference enhanced Raman spectroscopy
Автори: Gerasimov, V.
Герасимов, Віталій Вікторович
Mitsa, V.
Міца, В.
Babinets, Yu.
Бабинець, Ю.
Ключові слова: spectroscopy
refractive index
Raman spectrum
Raman spectroscopy
optical tomography
спектроскопія
показник заломлення
Раманівський спектр
Раманівська спектроскопія
оптична томографія
Дата публікації: 1996
Видавництво: УжНУ
Короткий огляд (реферат): The depth dependence of Raman spectra of a-GeS2 -type films having a different optical thickness (k/4 and k/2) and their refractive index profile have been investigated. The model of a layered-inhomogeneous structure of films has been proposed. There have been distinguished three regions: near-surface region (up to 50 As), central part and transition film-substrate region (up to 300 As).
Опис: Gerasimov V. Optical tomography of non-crystalline films by interference enhanced Raman spectroscopy / V. Gerasimov, V. Mitsa, Yu. Babinets // Fresenius J Anal Chem. - V. -355. -1996. - P.404–405
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://dspace.msu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/6788
Розташовується у зібраннях:Статті

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Optical_tomography_of_non-crystalline_films_by_interference_enhanced_Raman_spectroscopy.pdfOptical tomography of non-crystalline films by interference enhanced Raman spectroscopy586.03 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.